Mar 26, 2025 Dejar un mensaje

Osciloscopio de fósforo digital multifunción OWON de cuarta generación

 

Innovaciones técnicas básicas

 

● Ruido ultra-bajo y alta resolución

Utiliza la arquitectura X-Vision III con un ruido de referencia tan bajo como 200 μV, lo que permite un análisis preciso de la señal de nivel μV-.

●Resolución vertical de 12 bits(ampliable a 16 bits en modo mejorado), que admite captura de señal de alto rango dinámico.

●Alta capacidad de muestreo y almacenamiento

Ancho de banda: 20 MHz–500 MHz (p. ej., serie ADS3000); Tasa de muestreo en tiempo real-de hasta 2,5 GSa/s; La profundidad de almacenamiento de 100 Mpts garantiza una grabación de formas de onda de larga-duración.

●Tasa de captura de forma de onda: 500 000–750 000 wfms/s (en modo Secuencia), lo que mejora significativamente la detección de anomalías transitorias.

●Análisis de señal híbrida

Admite 4 canales analógicos + 16 digitales con decodificación de protocolo I2C/SPI/CAN/LIN acelerada por hardware-para análisis de señal de bus en tiempo real-modos de disparo avanzados: disparadores de flanco, pulso, ventana, lógica y protocolo.

Aplicaciones clave

 

●Nuevo diseño de energía y potencia

Precisión de nivel μV-para análisis de eficiencia MPPT de inversores fotovoltaicos y pruebas de respuesta de bucle del sistema de almacenamiento de energía.

●Electrónica automotriz

Señales de bus CAN FD/LIN descodificadas por hardware-para validación de la integridad de la señal de la ECU y diagnóstico de ruido del sensor.

●5G y comunicación de alta-velocidad

Admite análisis de fluctuación PCIe 6.0 y análisis de espectro de señal de RF para I+D de telecomunicaciones.

●Investigación y educación

Los modelos presupuestarios integran el análisis FFT y la generación de patrones de Lissajous para laboratorios universitarios.

Ventajas competitivas

 

●Localización rentable-efectiva

●Ecosistema de software

Control remoto mediante comandos SCPI e integración con LabVIEW; admite flujos de trabajo de prueba automatizados.

Tendencias de evolución técnica

 

Diagnóstico inteligente

Pruebas ecológicas

Integración optoelectrónica

 

 

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